재체결 뒤 내부저항이 달라지면 셀 열화보다 접촉·배선·온도 조건을 먼저 확인하고, ACIR과 DCIR의 측정 의미를 구분해야 합니다.소식 날짜: 2026-08-06 · 한국어 요약·해설먼저 읽는 핵심 표시값이 저항인지 임피던스 크기인지 확인 재체결·채널 교환·기준 셀로 변동 원인 분리01. 1kHz 저항값이 나타내는 응답ACIR은 지정 주파수의 작은 교류 신호에 대한 전압 응답으로 구합니다. 장비에 따라 저항의 실수 성분이나 직렬 등가저항, 임피던스 크기를 표시하므로 같은 단위만 보고 값을 비교할 수는 없습니다. 1kHz 결과는 빠른 전도 경로에 민감하지만 느린 계면 반응과 확산의 기여는 직류 펄스 시험과 다릅니다. 셀 선별과 추세 관찰에 유용하며 출력 평가용 DCIR과는 측정 의미를 구분합니다.02. 사선식에서도 남는 연결 오차그러나 지그 내부에서 두 경로가 합쳐지거나 감지 위치가 움직이면 접촉과 전류 분포의 영향이 남습니다. 원통형 단자 위치, 파우치 탭 삽입 깊이와 체결력, 표면 산화막을 일정하게 관리해야 합니다. 케이블의 큰 고리와 배치 변화도 교류 측정의 위상과 진폭에 영향을 줄 수 있습니다.03. 변동이 셀을 따르는지 확인하기지그를 닫은 채 연속 측정하는 것만으로 재체결 오차를 알 수 없습니다. 셀을 풀었다 다시 고정하고, 지그와 채널을 순서대로 교환해 높은 값이 어디를 따라가는지 확인합니다. 적합한 저저항 표준으로 장비를 점검하고 상태를 관리한 기준 셀로 실제 체결 과정을 확인할 수 있습니다. 온도·SOC·휴지 조건을 맞춘 뒤에도 이상이 남으면 용량·DCIR·EIS 등의 자료로 원인을 좁힙니다.이해를 돕는 추가 해설04. 반복 측정으로 연결 편차를 숫자로 보기가상의 측정 설계로 같은 셀을 고정한 상태에서 여러 번 읽은 값과, 매번 풀었다 다시 체결한 값을 나눠 모을 수 있습니다. 각 묶음의 평균과 값의 퍼짐을 비교하면 재체결 과정이 추가한 변동을 볼 수 있습니다. 평균이 비슷해도 재체결 묶음의 산포가 크다면 한 번의 읽기만으로 셀 간 작은 차이를 구분하기 어렵습니다.다음에는 같은 셀들을 서로 다른 지그에 번갈아 배치해 결과를 표로 정리합니다. 특정 셀이 어느 지그에서나 높게 측정되는지, 특정 지그에서만 모든 값이 높아지는지 구분하는 방식입니다. 이때 측정 순서와 대기 시간을 일정하게 하거나 균형 있게 배치하면 시간에 따른 상태 변화가 지그 차이로 섞이는 것을 줄일 수 있습니다.적용·해석 예시05. 평균값이 맞아도 선별 결과는 달라질 수 있다내부저항의 평균이 같은 두 측정 구성이 있다고 가정합니다. 한쪽은 값이 좁게 모이고 다른 쪽은 크게 흔들린다면, 분류 경계 근처의 동일 셀을 서로 다른 등급으로 판단할 가능성이 달라집니다. 평균 보정만으로 두 구성이 같은 선별 능력을 갖췄다고 볼 수 없는 이유입니다. 경계에서 멀리 떨어진 기준 셀만 확인하면 이런 차이를 발견하기 어려울 수 있습니다.가상의 경계 주변 셀들을 여러 번 측정한 뒤 등급이 바뀐 횟수를 비교하면 숫자의 산포가 실제 분류에 미친 영향을 볼 수 있습니다. 반복 측정이 많아졌을 때 평균값은 안정될 수 있지만, 생산에서 한 번만 읽는다면 그 조건의 변동도 따로 평가해야 합니다. 연구용 정밀 비교와 빠른 생산 선별은 같은 측정값을 사용해도 필요한 재현성의 판단 방식이 달라집니다.관련 안내읽은 내용을 실제 시험으로소재·코인셀 연구 ↗셀 성능·수명 평가 ↗PDF 사양서 찾기 ↗시험 구성 문의 ↗기술·새소식 전체 글 보기
